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技术分享 | A1550超声相控阵和A15250超声波探伤仪上的测试效果

来源: | 作者:ymssn | 发布时间:2021-10-16 | 706 次浏览 | 分享到:
借助 TFM功能的 A1550 IntroVisor和A1525 Solo超声波探伤仪,用于金属、塑料、复合材料和其他检测,实施 SAFT 技术以进一步优化缺陷尺寸检测和测量缺陷,并快速重构和可视化测试内部的不连续结构通过在五种测试模式之间进行快速切换,将工件作为实时横截面图像(B 扫描)进行检查。

技术与工程概论

目前,在一些其他技术有限的特殊应用中,使用具有 TFM 技术的设备非常流行。TFM 算法处理 FMC 或 SAFT 收集的数据,将 A-Scan 数据组织成波组,以声波从一个发射器到图像采集点再返回到其余接收器的路径为特征的一组波。那么什么是 FCM/SAFT/TFM?

FMC – 全矩阵捕捉

全矩阵数据采集是一种在相控阵换能器中采集所有可能的声波数据的技术。换句话说,使“在相控阵探头中将有许多元件,每个单独激活,所有其他元件都处于反馈信号收集模式”更容易可视化。这种数据采集方式产生了一个基本的 A 扫描矩阵,其中感兴趣区域中的每个像素都成为一个会聚点。与相控阵超声不同,FMC 不使用延时元件激活来驱动或聚焦波束。FMC 的收敛性能也只适用于感兴趣的区域 ROI——Region of Interest 在近场区域。

SAFT – 合成孔径聚焦技术 

合成孔径收敛技术使用反向传播算法,其中一组所有 A 扫描被测量并以数字形式存储,该算法具有快速处理和允许即时执行高分辨率处理以及之间的过渡效果的明显优势测试模式。SAFT 技术提高了宽焦点区域的像素空间分辨率,并抑制了粗粒材料结构的反向散射效应,从而提高了所得图像的对比度。SAFT 在感兴趣区域的收敛性能 ROI - 感兴趣区域在远场区域。

TFM –全聚焦法

通用聚焦处理是一种将用于重建的 A 扫描数据组织成图像的技术,该过程独立于 FMC 和 SAFT 执行。这意味着“它将从 FMC 或 SAFT 中获取波形数据,将图像处理成网格并构建为实时横截面图像(B-Scan)”。 


借助 TFM功能的 A1550 IntroVisor和A1525 Solo超声波探伤仪,用于金属、塑料、复合材料和其他检测,实施 SAFT 技术以进一步优化缺陷尺寸检测和测量缺陷,并快速重构和可视化测试内部的不连续结构通过在五种测试模式之间进行快速切换,将工件作为实时横截面图像(B 扫描)进行检查。


在 A1550 IntroVisor超声相控阵 和 A1525 Solo超声波探伤仪上使用 Multi-SAFT 的 TFM

TFM/FMC 设备通常有大约 8 到 15 个模式/路径,在测试数据收集或分析过程中必须选择*合适的类型,因为上面提到的 FMC “它是一种全矩阵数据采集技术”,大致理解作为“由许多元件组成的换能器,向测试件发出一束未聚焦的声波并收集它。”收集所有接收到的 A 扫描以形成波形数据集”,然后 TFM 上的算法将使用这些数据根据惯例选择的适当传输模式/模式重建图像,并提供可视化的 B 扫描横截面图像。在检查前选择正确的传输模式/方法对检查员来说是一个相当大的挑战,因为“您无法清楚地知道什么类型的缺陷以及它会出现在检查细节中的位置” → 这是 TFM/FMC 的免责声明。为了克服这个缺点,一些设备会提供多通道模式/传输方式同时显示在屏幕上或实时TFM扫描模式或同时将TFM与许多其他技术结合→需要大量工作,并在检查、数据损坏时分析、购买设备的价格。但它会提供更好、更准确的结果。


随着ACS集团/德国的TFM缺陷检测设备A1550 IntroVisor和A1550 Solo系列的部署和使用Multi-SAFT技术,它将帮助用户解决FMC的一些缺点:

1.  有助于提高大范围焦点内的像素空间分辨率。

2.  抑制来自粗粒材料结构的反向散射效应提高了所得图像的对比度。

3.  提供信号在*大信号位置(可以根据需要选择其他位置)处的折射角和声程值的信息。

4.  轻松快速地从 TFM/SAFT 断层扫描切换到符合 DAC、TCG 和 DGS 标准的传统超声。

6.  允许即时执行高分辨率处理以及模式/路径之间的转换。

7.  在单次扫描中检测大多数类型的缺陷及其在测试件中的位置。

8.  能够测试多种材料,如碳钢、不锈钢(甚至铸造奥氏体不锈钢)、塑料、复合材料.





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