A1040 MIRA 3D阵列超声成像仪 符合 《DB32/T 3754-2020 装配整体式混凝土结构检测技术规程》 附录G 阵列超声成像法检测叠合楼板结合面缺陷
A1040 MIRA 3D阵列超声成像仪 符合 《DB32/T 3754-2020 装配整体式混凝土结构检测技术规程》 附录G 阵列超声成像法检测叠合楼板结合面缺陷
G.1 用于叠合楼板结合面缺陷检测的阵列超声成像仪,应包括主机、阵列探头和软件等,每个探头都应装载独立的弹簧悬架。
G.2 阵列超声成像仪应符合下列规定:
1 仪器应具各扫描成像、波形及图像查看、原始数据保存和导出等功能
2 仪器应配置主频不大于 100kHz 的宽频带探头,探头宜采用穿透性强的干耦合式换能器,探头数量不宜少于 24 个。
3 仪器的模拟增益不宜小于 40dB.
4 仪器的采样频率不宜小于 1MHz
G.3 检测前应做好如下工作:
1 确定检测设备是否正常。
2 确定叠合楼板的总厚度及预制底板的厚度.
3 根据检测要求及测试条件,确定待测部位。
G.4 应按下列步骤进行检测:
1 采用阵列超声成像仪对叠合楼板的厚度进行测试,根据仪器对叠合楼板下表面的反射成像效果调试仪器的工作频率、彩色增益等参数
2 依次对每个测点进行扫描成像,测点表面应为混凝士原浆面.
3 对各测点的扫描成像图进行缺陷识别,根据缺陷的深度判断是否为结合面的缺陷。
产品链接:A1040 MIRA 3D阵列超声成像仪