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  • A1210超声波测厚仪 高精度超声波测厚仪
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  • A1210超声波测厚仪 高精度超声波测厚仪

    德国ACS

    可自动适应表面曲率和粗糙度

    自动测量算法,消除单晶探头在薄体结构下近场区的影响

    金属、铸铁、塑料和其他具有高衰减的材料制成的产品进行厚度测量

    通过聚合物(聚乙烯)、清漆和油漆以及其他类型的绝缘涂层进行测量

    可在腐蚀表面以及平坦光滑的表面上进行测量,无需任何额外的调整

    即可在数字数据的模式下运行,也可以在A扫描的信号图形模式下运行

    对外来夹杂物和层压物进行快速搜索

    重量:0.000KG
产品描述

可自动适应表面曲率和粗糙度

自动测量算法,消除单晶探头在薄体结构下近场区的影响

金属、铸铁、塑料和其他具有高衰减的材料制成的产品进行厚度测量

通过聚合物(聚乙烯)、清漆和油漆以及其他类型的绝缘涂层进行测量

可在腐蚀表面以及平坦光滑的表面上进行测量,无需任何额外的调整

即可在数字数据的模式下运行,也可以在A扫描的信号图形模式下运行

对外来夹杂物和层压物进行快速搜索


德国 ACS A1210 超声波测厚仪是一款专为工业管道与复杂工件设计的便携式超声波检测设备。该设备集成了单晶与双晶探头自动识别与自适应测量算法,支持穿透各类油漆与绝缘涂层直接测量基体厚度,大幅提升金属、铸铁及高衰减材料的无损检测效率。

1. 核心应用场景与适用范围

  • 穿透涂层壁厚测量:无需剥离表面聚合物、清漆或漆层等绝缘涂层,直接精准获取基体金属厚度;

  • 小管径与曲面管道检测:专用小孔径探头可紧密贴合曲面,适用于弯头及小直径管道的壁厚腐蚀排查;

  • 高衰减材料壁厚评估:针对铸铁、塑料及粗晶高衰减材料,提供高穿透力与稳定的回波信号检测;

  • 内部夹杂与分层排查:借助 A‑Scan 模式实时观察回波图形,**排查工件内部的异物夹杂与分层缺陷。

2. 产品核心功能与技术特色

  • 单双晶探头自适应与智能识别:主机内置探头规格数据库,可自动识别接入的传感器参数。支持单晶与双晶换能器自由更换,其中自动测量算法可有效降低单晶探头在测量薄壁结构时近场区对测量结果的干扰。

  • 表面曲率自适应与自我校正:设备能够自动适应被测工件的表面曲率与粗糙度,减少测量误差。机身一体化集成标准校正块,配合自我校正程序与材料波速自动测定功能,确保不同工况下的测量稳定性。

  • 数字与 A‑Scan 双模式显示:提供直观的数字显示模式以及专业的 A‑Scan 信号波形模式。操作人员既可快速读取数值,也可通过波形图分析复杂回波特征,评估残余壁厚百分比(基于预设基准值)。

  • 广温探头配置与大容量存储:标配探头工作温度覆盖‑30°C~+50°C,选配高温探头*高可承受+250°C高温介质。主机内置非易失性存储器,可保存多达50,000组测量数据,便于后续数据导出与归档。

3. 技术规格与交付配置

1. 规格参数

参数分类参数项目技术指标说明
测量性能厚度测试范围0.7 – 300 mm

测量精度±(0.01X+0.1/0.05) mm

测量分辨率0.1 mm / 0.01 mm(可调)

材料声速设定范围500 – 19999 m/s

*小适应曲率半径10 mm
硬件与存储显示模式数字模式 / A‑Scan 波形模式

数据存储容量50,000 组数据

探头适用温度范围标准:‑30°C~+50°C;选配高温型:*高+250°C

2. 标准交付套件清单

  • A1210 超声波测厚仪主机(含一体化校正块)

  • S3567 2.5A0D10CL 单晶传感器 & D1771 4.0A0D12CL 双晶传感器

  • 单芯电缆 (1.2m LEMO 0‑LEMO 00) & 双芯电缆 (1.2m LEMO 00‑LEMO 00)

  • 电源适配器 (220V‑USB) & USB 数据线

  • 专用耦合剂凝胶 (0.1kg) & 便携防护仪器箱

4. 常见问题解答(FAQ)

Q1:A1210 超声波测厚仪如何实现穿透漆层和油漆涂层直接测厚?

A1210 超声波测厚仪利用多次回波穿透测量技术(Echo‑to‑Echo / Thru‑Coat 技术),能够自动识别并扣除表面聚合物、油漆或漆层的超声传输时间,仅计算金属基体的回波声程。因此在检测防腐管道或油漆覆盖的设备时,无需打磨或剥离表面涂层即可直接测得基体真实厚度。

Q2:A1210 的 A‑Scan 模式相比普通数字测厚仪有何优势?

A‑Scan 模式可以在屏幕上直观呈现超声波脉冲的实时回波波形。在面对内部存在微小分层、夹杂物或底面严重腐蚀凹凸不平的复杂工件时,仅靠数字模式容易误判或跳数,而 A‑Scan 模式允许检测人员通过波形峰值与相位关系准确判断缺陷类型与真实底波位置,大幅提升无损检测的可靠性。




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